Chip Scale Review:晶圆级 TMR 测试

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在最新一期的《Chip Scale Review》杂志中,Hprobe 首席技术官兼联合创始人 Siamak Salimy 深入解析了为何隧道磁电阻 (TMR) 正在成为增长最快的磁性传感器技术,以及其快速普及如何重新定义了晶圆级测试的需求。

受电气化、自动化、高级驾驶辅助系统 (ADAS)、机器人、消费电子以及医疗应用的驱动,市场对高性能磁性传感的需求持续加速。在霍尔 (Hall)、各向异性磁电阻 (AMR) 和巨磁电阻 (GMR) 等现有技术中,TMR 凭借其卓越的灵敏度脱颖而出。其磁电阻比可超过 100%,并具备微特斯拉级的检测能力,从而在精度、能效和小型化方面实现了重大性能提升。

然而,这些优势也带来了显著的生产挑战。正是 TMR 这种极具吸引力的灵敏度,要求在晶圆级表征过程中必须进行极其精确的磁场控制。制造商必须能够在从微特斯拉到数百毫特斯拉的广阔磁场范围内测量软磁和硬磁回线 (Minor and Major Loops),同时确保在 X、Y、Z 轴方向上实现完整的 3D 磁场控制。与此同时,磁场精度、均匀性、扫描速度和吞吐量必须满足严格的生产限制。

随着灵敏度的提高,公差范围也在缩小;随着产量的增长,吞吐量压力不断加剧。在实际生产条件下确保重复性和稳定性变得至关重要,尤其是在晶圆级需要闭环校准时。

专用的 3D 磁场激励系统正成为关键的赋能技术。通过将精确的矢量场控制与量产级集成相结合,这些系统实现了从研发环境到全面制造规模的精准、高吞吐量晶圆级表征。

随着 TMR 在各行业的应用加速,挑战不再仅仅关乎传感器性能,更关乎能否在大规模生产中可靠且高效地测试这种性能。

作为 Mycronic 集团的一员,Hprobe 凭借专为晶圆级应用设计的成熟 3D 磁性测试技术,助力磁性传感器制造商应对这些生产现实。

阅读《Chip Scale Review》完整文章 (第 42–44 页)。