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대량 생산에서 수율 관리를 가능하게 하는STT-MRAM의 자기 테스트 (Magnetic testing for STT-MRAM enabling yield management in volume manufacturing By Siamak Salimy, Founder and CTO of Hprobe)

Apr 7, 2021 | Hprobe in the news

Semiconductor Network (Korea) 

STT-MRAM(Spin Transfer Torque Magnetic Random Access Memory ; 스핀 전달 토크 자기 메모리)은 빠르고 휘발성이 없으며 내구성이 뛰어날 뿐 아니라 저전력의 확장가능한 새로운 메모리 기술로 최근 빠르게 각광받고 있다. eFlash를 대체할 강력한 대안인 동시에 자동차와 IoT 를 비롯한 저전력 애플리케이션에 특히 매력적인 이 소자의 대량 생산에 필수적인 높은 수율을 지원하기 위해서는 새로운 테스트 접근 방식이 필요하다.